HPS2561四探針電阻率測試儀
簡要描述：HPS2561四探針電阻率測試儀測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻 四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量。
產品型號：- 廠商性質：生產廠家
- 更新時間：2020-03-30
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產品介紹
HPS2561四探針電阻率測試儀
測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量。
HPS2561四探針電阻率測試儀
性能特點
v 高電阻精度：0.05%
v 高達30通道/秒
v 每個通道獨立設定上下限
v 具有低阻測試模式，有效保護被測件
v 高10檔量程，手動和自動模式
v 可根據(jù)實際需要任意選擇總通道數(shù)提高測量效率
v 中英文可選操作界面
v 完備的通訊接口可以與PC進行數(shù)據(jù)通訊及對儀器的遠程控制
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